高精度LCR測(cè)試儀，20Hz ~ 1MHz
LCR-8101G高精度LCR測(cè)試儀，提供高達(dá)1MHz寬廣的測(cè)量頻率范圍以及0.1%的基本**度。另外，還包括DC電阻測(cè)量以及電壓/電流監(jiān)測(cè)功能，并搭配5.6”LCD可以同時(shí)顯示所有測(cè)試參數(shù)及結(jié)果。多步驟測(cè)試功能可以針對(duì)同一待測(cè)體一次執(zhí)行不同參數(shù)的測(cè)量，快速分析待測(cè)體的特性；并且每組編程包括30個(gè)測(cè)試步驟，每個(gè)步驟均可以設(shè)置測(cè)試參數(shù)和限制，執(zhí)行Pass/Fail判定。圖表模式功能，LCR-8101G將以圖表的形式，顯示元器件的阻抗特性隨著掃描頻率或電壓的變化所呈現(xiàn)的規(guī)律，并以曲線圖的形式顯示結(jié)果。標(biāo)準(zhǔn)配備的GPIB和RS-232C接口，可以用于設(shè)備遠(yuǎn)端控制和讀取測(cè)試結(jié)果。LCR-8101G系列豐富的特點(diǎn)讓您的測(cè)試任務(wù)變得更加簡(jiǎn)單而實(shí)用。
產(chǎn)品規(guī)格
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測(cè)試頻率
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20Hz ~ 1MHz, 5 位數(shù), ±0.005%
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輸入阻抗
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100Ω
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基本準(zhǔn)確度
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±0.1% (R, Z, X, G, Y, B, L, C)
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測(cè)試速度
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交流 (＞ 2kHz)
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直流
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*大(MAX): 75mS
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*大(MAX): 30mS
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快速(FAST): 150mS
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快速(FAST): 60mS
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中速(MEDIUM): 450mS
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中速(MEDIUM): 120mS
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慢速(SLOW): 600mS
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慢速(SLOW): 900mS
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測(cè)試信號(hào)電平
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10mV~2Vrms, 1mV/Step or 10mV/Step, 2%±5mV
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短路電流
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*大20mA
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測(cè)量范圍
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R, Z, X
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0.1mΩ ~ 100MΩ
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G, Y, B
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10nS ~ 1000S
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L
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0.1nH ~ 100kH
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C
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0.01pF ~ 1F
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D
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0.00001 ~ 9.9999
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Q
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0.1 ~ 9999.9
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θ
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-180° ~ +180°
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Rdc
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0.1mΩ ~ 100MΩ
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測(cè)量參數(shù)
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阻抗 (Z), 相位角 (θ), 電感 (L), 電容 (C),
電流電阻 (Rac), 品質(zhì)因數(shù) (Q), 損耗因數(shù) (D),
導(dǎo)納 (Y), 電導(dǎo) (G), 電抗 (X), 電納 (B),
直流電阻 (Rdc)
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串聯(lián) / 并聯(lián)等效電路
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C + R, C + D, C + Q, L + R, L + Q, L + D
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串聯(lián)等效電路
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X + R, X + D, X + Q
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并聯(lián)等效電路
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C + G, B + G, B + D, B + Q, B + R, L + G
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向量測(cè)量組合
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Z + Phase Angle, Y + Phase Angle
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LCD顯示屏
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320 x 240 點(diǎn)陣顯示
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接口
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RS-232, GPIB
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電源
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AC 115V ±10% / 230V ±10% (可選), 50/60Hz
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尺寸&重量
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330(寬) x 170(高) x 340(深)mm, 約5公斤
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訂購(gòu)信息
LCR-8101G 1MHz 高精度 LCR 測(cè)試儀
配件
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LCR-05 引腳型元件測(cè)試治具 頻率：DC-1MHz*大電壓：35V
LCR-06A 四線式測(cè)試治具 頻率：DC-1MHz*大電壓：35V
LCR-07 兩線式測(cè)試治具 頻率：DC-1MHz *大電壓：35V
LCR-08 SMD / Chip 元件(手持式)測(cè)試治具 頻率：DC-1MHz *大電壓：35V
LCR-09 SMD / Chip 元件(固定式)測(cè)試治具 頻率：DC-10MHz *大電壓：35V 應(yīng)用封裝尺寸：英制inch（0603--1812）
LCR-12 Kelvin clip測(cè)試線（4線）+接地夾 頻率：DC-10MHz *大電壓：35V
LCR-13 SMD / Chip 元件(固定式)測(cè)試治具 頻率：DC-10MHz *大電壓：35V 應(yīng)用封裝尺寸：英制inch（0201--0805）
GTL-232 RS-232C連接線, 9-pin母座對(duì)9-pin,Null Modem
GRA-404 面板機(jī)架 (19", 4U)
GTC-001 儀器臺(tái)車(chē)
GTC-002 儀器臺(tái)車(chē)
